Inmetro participa da 23ª Reunião de Diretores de Institutos Nacionais de Metrologia
Encontro abordou o futuro da metrologia na transformação digital e discutiu temas como digitalização, tecnologias quânticas, IA e novos avanços em metrologia global Compartilhe: Compartilhe por Facebook Compartilhe por Twitter Compartilhe por LinkedIn Compartilhe por WhatsApp link para Copiar para área de transferência
Publicado em
11/12/2024 11h17
Nos dias 17 e 18/10 o Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) participou da 23ª Reunião de Diretores de Institutos Nacionais de Metrologia, na sede do Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM), em Sèvres, França. O evento, que reuniu especialistas de diversas partes do mundo, teve como tema central “Future opportunities for metrology in the digital transformation” (Futuras oportunidades para a metrologia na transformação digital).
O Inmetro esteve presente na reunião, com a participação presencial do pesquisador Gustavo Ripper, representante brasileiro no Comitê Internacional de Pesos e Medidas. Participaram remotamente o assessor técnico Luiz Tarelho, que representou a Diretoria de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia do Instituto (Dimci), e o coordenador-geral de articulação internacional, Jorge Antonio da Paz Cruz.
O primeiro dia do encontro foi dedicado à discussão de temas relacionados à agenda digital, como digitalização, tecnologia quântica e inteligência artificial no campo da metrologia.
Já o segundo dia da reunião tratou de temas como a discussão sobre estatutos no contexto do programa de modernização do BIPM; os resultados do programa "Young Metrologists Vision 2050 plus", que busca engajar as novas gerações de metrologistas; e as discussões sobre uma nova definição para a unidade de tempo "segundo".
Para o diretor de Metrologia Científica do Inmetro, Luiz Fernando Rust, a reunião foi uma valiosa oportunidade de alinhar iniciativas globais: “é um momento de harmonizar as iniciativas de cada país, alinhando as estratégicas nacionais com as demandas internacionais na área de metrologia, permitindo maior engajamento nas ações de desenvolvimento das tecnologias com interesse em comum”.
Categoria Empresa, Indústria e Comércio
