Inmetro participa de Fórum na França sobre Digitalização da Metrologia
Evento reforça a credibilidade da instituição internacionalmente para inovação em Metrologia através da transformação digital Compartilhe: Compartilhe por Facebook Compartilhe por Twitter Compartilhe por LinkedIn Compartilhe por WhatsApp link para Copiar para área de transferência
Publicado em
14/03/2024 20h05
Atualizado em 15/03/2024 14h48
O Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro), participou de 4 a 8 de março, da primeira reunião do Fórum de Metrologia e Digitalização (Forum-MD), realizada pelo Comitê Internacional de Pesos e Medidas (CIPM). O evento aconteceu no Pavillon de Breteuil, na sede do Bureau International des Poids et Mesures (BIPM).
O diretor de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia do Inmetro, Luiz Fernando Rust, representou a instituição na reunião do Fórum de Metrologia e Digitalização e no workshop 'Towards Digital Quality Infrastructure', "Rumo à Infraestrutura de Qualidade Digital”.
“Essa participação ativa do Inmetro reforça a nossa credibilidade internacional na área científica e contribui significativamente para o avanço da infraestrutura da qualidade digital, mantendo a instituição alinhada às últimas tendências e participando destas inovações”, informou Rust.
Durante a programação, Rust compartilhou experiências com pares de Institutos Nacionais de Metrologia (INMs), de todo o mundo, como: Martin Milton (NIST/EUA), Peter Blattner (Metas/Suíça), Wan-Ho Cho (Kriss/Coréia), Hector Laiz (INTl/Argentina), Cornelia Denz (PTB/Alemanha) e Joachim Ullrich (presidente do Forum e ex-presidente PTB/Alemanha).
O diretor de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia do Inmetro, Luiz Fernando Rust e Joachim Ullrich, presidente do Forum e ex-presidente PTB/Alemanha
Luiz Fernando Rust (Inmetro) e Hector Laiz, do INTl/Argentina
Luiz Fernando Rust (Inmetro e Cornelia Denz, presidente do PTB
Categoria Empresa, Indústria e Comércio
Tags: metrologia científicainfraestrutura da qualidadedigitalização da metrologia
